Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Goyal A., Specht E.D., Paranthaman M., Martin P.M., Li J., Gapud A.
Zhang W., Huang Y., Li X., Kodenkandath T., Rupich M.W., Schoop U., Verebelyi D.T., Thieme C.L., Siegal E., Holesinger T.G., Maiorov B., Civale L., Miller D.J., Maroni V.A., Li J., Martin P.M., Specht E.D., Goyal A., Paranthaman M.P.
Rupich M.W., Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Jia Q.X., Verebelyi D.T., Chen Z., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Civale L., Maroni V., Maroni V., Huang Y., Rane M.V., Rane M.V., Feldman D.M.
Rupich M.W., Thieme C.L., Schoop U., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Verebelyi D.T., Fleshler S., Huang Y., Carter W., Schreiber J., Prasova M., Tucker D.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors multifilamentary, filaments, geometry effects, ac losses, inkjet printing
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, pinning, defects, microstructure, doping effect, presentation, fabrication
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Kim S.I., Gurevich A., Song X.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, ex-situ process, thickness dependence, critical current, critical current density, irreversibility fields, pinning force, substrate Ni-W, RABITS process, Jc/B curves, experimental results, critical caracteristics, fabrication, magnetic properties
Ключевые слова: patents, HTS, YBCO, coated conductors, fabrication
Rupich M.W., Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Goyal A., Paranthaman M., Verebelyi D.T., Civale L., Maiorov B., Holesinger T.
Rupich M.W., Thieme C.L., Schoop U., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Goyal A., Verebelyi D.T., Paranthaman M.P., Sathyamurthy S., Bhuiyan M.S.
Rupich M.W., Li X., Kodenkandath T., Rane M.V.(mrane@uamail.albany.edu), Efstathiadis H., Bakhru H.((hb694@albany.edu), Zhang W.(wzhang@amsuper.com), Haldar P.
Ключевые слова: HTS, YBCO, TFA-MOD process, microstructure, buffer layers, interfaces, fabrication
Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Rupich M., Huang Y., Long N., Strickland N., Chapman B., Ross N., Xia J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, nanodoping, pinning centers, Jc/B curves, angular dependence, defects, experimental results, critical caracteristics
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Gray K.E., Reeves J., Vlasko-Vlasov V.K., Claus H., Trasobares S., Lei Y., Hiller J.M., Venkataraman K.(venkataraman@wisc.edu)
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Maiorov B., Serquis A., Willis J.O., Civale L.(lcivale@lanl.gov)
Venkataraman K., Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Lynch J., Scudiere J., Verebelyi D.T., Holesinger T.G., Rupich M.W.(mrupich@amsuper.com), Teplitsky M., Maroni V., Miller D.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, RABITS process, MOD process, YBCO, substrate Ni-W, fabrication, microstructure, critical current density, review, critical caracteristics
Verebelyi D.T.(dverebelyi@amsuper.com), Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Malozemoff A.P., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Scudiere J., Rupich M., Goyal A., Specht E.D., Martin P., Paranthaman M.
Rupich M.W., Schoop U., Thieme C., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Arendt P.N., Foltyn S.R., Verebelyi D.T., Li X.(xli@amsuper.com), Jowett M., Holesinger T.G., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P.
Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Buczek D., Lynch J., Scudiere J., Rupich M., Harley E., Masur L.J.(LMasur@amsuper.com), Verebelyi D., Kellers J.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.